发明名称 |
トンネル磁気抵抗効果素子及びそれを用いたランダムアクセスメモリ |
摘要 |
<p>高いTMR比、低い書き込み電流を実現し、さらに素子全体の抵抗増大を抑制しつつ、記録層及び固定層の熱安定性指数(E/kBT)を高めることで安定した動作が可能になるトンネル磁気抵抗効果素子を提供する。CoFeBからなる記録層21、固定層22の少なくとも一方において、トンネルバリア層10と反対側に導電性酸化物層31,32を配置した。</p> |
申请公布号 |
JPWO2013069091(A1) |
申请公布日期 |
2015.04.02 |
申请号 |
JP20130542733 |
申请日期 |
2011.11.08 |
申请人 |
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发明人 |
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分类号 |
H01L43/08;H01L21/8246;H01L27/105;H01L43/10 |
主分类号 |
H01L43/08 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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