| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erkennung von defekten LED’s in einem LED-Array-System eines Matrix-Beam-Scheinwerfers (1) umfassend die Schritte:–Abstrahlen von Licht aus dem Matrix-Beam-Scheinwerfer (1) auf eine reflektierende Oberfläche (3),–Empfangen von reflektiertem Licht, welches von der Oberfläche (3) zurückgeworfen wird, mittels einer Erfassungseinheit (4) und–Detektieren von defekten LED’s mittels der Erfassungseinheit (4).</p> |
