发明名称 半導体装置および半導体装置製造方法
摘要 <p>半田付け性の安定化を図り、接続不良の発生を防止する。半導体装置(1)は、絶縁基板(11)と外囲ケース(20)を備える。絶縁基板(11)には、半導体素子(12)が実装されている。外囲ケース(20)は、絶縁基板(11)を収容する。外囲ケース(20)の側壁(20a、20b)には、両端が固定されている金属製の端子バー(30)が設けられ、端子バー(30)には、絶縁基板(11)側に向けて突起した端子部(32−1、32−2)が設けられている。また、端子バー(30)の両端には、絶縁基板(11)に向かい合う面(31a)とは反対側の面(31b)であって、かつ外囲ケース(20)の側壁(20a、20b)の近傍の位置に対して、プレス溝加工が施されたプレス溝(33−1、33−2)が設けられている。</p>
申请公布号 JPWO2013058038(A1) 申请公布日期 2015.04.02
申请号 JP20130539573 申请日期 2012.09.12
申请人 发明人
分类号 H01L23/12;H01L23/48;H01L25/07;H01L25/18 主分类号 H01L23/12
代理机构 代理人
主权项
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