发明名称 HIT TESTING METHOD AND APPARATUS
摘要 본 발명의 실시예는 히트 테스트 방법 및 장치를 제공한다. 상기 방법은 스크린상에 표시된 객체의 화소의 색상 값을 상기 객체의 대응하는 식별자(ID) 값으로 대체하는 단계; 상기 ID 값을 비트맵 어레이에 저장하는 단계 - 상기 비트맵 어레이의 각 요소는 각각의 객체의 하나 이상의 화소에 대응함 -; 히트 이벤트의 포착에 응답하여, 상기 히트 이벤트에 대응하는 상기 스크린에서의 히트 좌표를 취득하는 단계; 상기 히트 좌표에 대응하는 비트맵 어레이 요소를 결정하는 단계; 및 상기 비트맵 어레이 요소와 연관된 ID 값에 따라, 상기 히트 이벤트와 관련된 객체를 식별하는 단계를 포함한다.
申请公布号 KR20150034296(A) 申请公布日期 2015.04.02
申请号 KR20157005862 申请日期 2013.08.02
申请人 텐센트 테크놀로지(센젠) 컴퍼니 리미티드 发明人 위 양
分类号 G06F11/36;G09G5/08 主分类号 G06F11/36
代理机构 代理人
主权项
地址