发明名称 Kontaktloser Stresstest von Speicher-E/A-Schnittstellen
摘要 <p>Ausführungsformen verweisen im Allgemeinen auf das kontaktlose Stresstesten von Speicherein-/-ausgabe(E/A)-Schnittstellen. Eine Ausführungsform eines Speicherelements umfasst ein mit einem dynamischen Direktzugriffspeicher (DRAM) verbundenes Systemelement, einschließlich einer Speicherschnittstelle zur Verbindung mit dem DRAM, die Schnittstelle umfasst einen Treiber und einen Empfänger, einen Speicher-Controller zur Steuerung des DRAM und eine Timing-Stresstestslogik zum Testen der E/A-Schnittstelle.</p>
申请公布号 DE112013003250(T5) 申请公布日期 2015.04.02
申请号 DE20131103250T 申请日期 2013.05.30
申请人 INTEL CORPORATION 发明人 MENON, SANKARAN;ROEDER, ROBERT R.
分类号 G11C29/08;G01R31/26 主分类号 G11C29/08
代理机构 代理人
主权项
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