发明名称 薄膜形成基板及び薄膜形成方法
摘要 薄膜形成方法は、基板を準備する基板準備工程と、基板上に薄膜を形成する薄膜形成工程と、薄膜に光線を照射して薄膜を結晶化する結晶化工程とを含み、結晶化工程は、基板の端部及び基板を切断する際に切断線が通る領域の少なくとも一方を含む第1薄膜形成領域の薄膜に第1条件の光線を照射することにより、第1薄膜形成領域の薄膜を結晶化して第1結晶性薄膜とする第1結晶化工程と、第1結晶化工程の後に、少なくとも第1薄膜形成領域と異なる領域である第2薄膜形成領域の薄膜に第2条件の光線を照射することにより、第2薄膜形成領域の薄膜を結晶化して第2結晶性薄膜とする第2結晶化工程とを有し、薄膜は、第2条件の光線の光吸収率が第1結晶性薄膜より大きい。
申请公布号 JPWO2013069056(A1) 申请公布日期 2015.04.02
申请号 JP20130542687 申请日期 2011.11.09
申请人 パナソニック株式会社 发明人 西田 健一郎;尾田 智彦;齋藤 唯
分类号 H01L21/20;H01L21/268;H01L21/336;H01L29/786 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人
主权项
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