发明名称 | 使用近场光学力的方法 | ||
摘要 | 描述了使用近场光研究、探寻、分析和探测颗粒、物质和类似物的方法。描述了使用近场光识别颗粒、物质和类似物的结合配偶体、调制物、抑制剂和类似物的方法。在某些实施方式中,该方法包括固定或陷俘颗粒、物质和类似物。 | ||
申请公布号 | CN104487821A | 申请公布日期 | 2015.04.01 |
申请号 | CN201380025045.8 | 申请日期 | 2013.03.15 |
申请人 | 微流控光学公司 | 发明人 | R·哈特;B·科德维斯 |
分类号 | G01N21/01(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/01(2006.01)I |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人 | 赵蓉民;张全信 |
主权项 | 测量物质的至少一种性质的方法,所述方法包括:在光阱的近场光附近定位物质;从光源引导光至所述物质;探测所述光对所述物质的影响;并且基于所探测的影响测量所述物质的至少一种性质。 | ||
地址 | 美国宾夕法尼亚州 |