发明名称 使用近场光学力的方法
摘要 描述了使用近场光研究、探寻、分析和探测颗粒、物质和类似物的方法。描述了使用近场光识别颗粒、物质和类似物的结合配偶体、调制物、抑制剂和类似物的方法。在某些实施方式中,该方法包括固定或陷俘颗粒、物质和类似物。
申请公布号 CN104487821A 申请公布日期 2015.04.01
申请号 CN201380025045.8 申请日期 2013.03.15
申请人 微流控光学公司 发明人 R·哈特;B·科德维斯
分类号 G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/01(2006.01)I
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人 赵蓉民;张全信
主权项 测量物质的至少一种性质的方法,所述方法包括:在光阱的近场光附近定位物质;从光源引导光至所述物质;探测所述光对所述物质的影响;并且基于所探测的影响测量所述物质的至少一种性质。
地址 美国宾夕法尼亚州