可编程协议发生器

摘要

本发明提供一种半导体器件测试器，其包括配置为测试半导体被测器件的可编程硬件。所述可编程硬件通过两个或更多个码型发生器编程以控制所述半导体被测器件发送和接收的数据流。

主权项

一种半导体器件测试器，包括：可编程硬件，其配置为测试半导体被测器件，其中所述可编程硬件通过两个或更多个码型发生器编程以控制所述半导体被测器件接收和发送的数据流；其中所述码型发生器中的一个包括发送可编程码型发生器以向所述半导体被测器件发送数据；其中所述码型发生器中的一个包括接收可编程码型发生器以从所述半导体被测器件接收数据；并且其中所述发送可编程码型发生器与所述接收可编程码型发生器进行通信。