发明名称 表面硬化深度的涡流检验
摘要 提供一种多频涡流(MFEC)检验系统用于检验零件上的表面硬化深度。MFEC检验系统包括:发生器,其配置成生成一个或多个多频激励信号;以及涡流探头,其配置成设置在零件的一侧。涡流探头包括一个或多个驱动器和一个或多个拾取传感器。一个或多个驱动器配置成接收一个或多个多频激励信号,以便在零件中感应涡流。一个或多个拾取传感器配置成检测零件的局部区域中的感应的涡流,以便生成一个或多个多频响应信号。MFEC系统还包括处理器,处理器配置成接收一个或多个多频响应信号供处理,以便确定零件的局部区域的表面硬化深度。还提供脉冲涡流检验系统和涡流检验方法。
申请公布号 CN102549375B 申请公布日期 2015.04.01
申请号 CN201080042902.1 申请日期 2010.07.21
申请人 通用电气公司 发明人 H·孙;Y·A·普罗特尼科夫;C·王;S·C·纳思;A·C·谢拉-瓦德
分类号 G01B7/06(2006.01)I 主分类号 G01B7/06(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 柯广华;卢江
主权项 一种用于检验零件上的表面硬化深度的多频涡流(MFEC)检验系统,所述多频涡流(MFEC)检验系统包括:发生器,其配置成生成一个或多个多频激励信号;涡流探头,其配置成设置在所述零件的一侧并且包括一个或多个驱动器和一个或多个拾取传感器,其中所述一个或多个驱动器配置成接收所述一个或多个多频激励信号,以便在所述零件中感应涡流,而所述一个或多个拾取传感器配置成检测所述零件的局部区域中的所感应的涡流,以便生成一个或多个多频响应信号;以及处理器,其配置成接收所述一个或多个多频响应信号供处理,以便确定所述零件的所述局部区域的表面硬化深度;其中,所述发生器包括函数发生器;其中,所述处理器包括锁定放大器,并且其中所述函数发生器还配置成向所述锁定放大器供给具有与所述一个或多个多频响应信号相同的频率的一个或多个参考信号。
地址 美国纽约州