发明名称 半导体结构及其制造方法;SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME
摘要 一种半导体结构及其制造方法。半导体结构的制造方法包括以下步骤。形成一N型漂移层(N drift layer)。形成一N型缓冲层(N buffer layer)于N型漂移层上,N型缓冲层包括一N型掺杂物。形成一P型重掺杂层(P+ implantation layer)于N型缓冲层上,P型重掺杂层包括一P型掺杂物。以一雷射光源照射N型缓冲层及P型重掺杂层以活化N型掺杂物及P型掺杂物。其中,雷射光源包括一红外光(IR)及一绿光雷射(green laser),红外光以大于300毫米/秒(mm/s)至600毫米/秒之扫描速度(scan speed)照射N型缓冲层及P型重掺杂层,红外光包括复数个红外光脉冲,红外光脉冲之脉冲时间(pulse time)为大于30奈秒(ns)至200奈秒。; an N buffer layer, comprising an N dopant, is formed on the N drift layer; a p implantation layer, comprising a P dopant, is formed on the N buffer layer; and the N buffer layer and the P implantation layer are irradiated by a laser source to activate the N dopant and the P dopant. The laser source includes an IR and a green laser. The IR is irradiated on the N buffer layer and the P implantation layer with a scan speed of larger than 300 mm/s to 600 mm/s. The IR includes a plurality of IR pulses, of which the pulse time is larger than 30 ns to 200 ns.
申请公布号 TW201513179 申请公布日期 2015.04.01
申请号 TW102135123 申请日期 2013.09.27
申请人 财团法人工业技术研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE 发明人 李隆盛 LEE, LURNG SHEHNG;李传英 LEE, CHWAN YING
分类号 H01L21/268(2006.01);H01L29/66(2006.01) 主分类号 H01L21/268(2006.01)
代理机构 代理人 祁明辉林素华涂绮玲
主权项
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号 TW