发明名称 | 光学位移侦测装置及方法 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI479372 | 申请公布日期 | 2015.04.01 |
申请号 | TW101127085 | 申请日期 | 2012.07.27 |
申请人 | 原相科技股份有限公司 | 发明人 | 王彦章;陈俊玮 |
分类号 | G06F3/0354;G06F11/26;G01S7/491;G01S17/50 | 主分类号 | G06F3/0354 |
代理机构 | 代理人 | 任秀妍 新竹市光复路2段481号9楼 | |
主权项 | 一种光学位移侦测装置,包含:一光源,投射一探照光至一待测表面;一影像撷取单元,其根据从该待测表面反射的光线,以产生一影像讯号;以及一处理单元,根据该影像讯号,产生一曝光状态值与一影像特征值,并根据一初始曝光范围、该曝光状态值与该影像特征值,以决定一曝光范围,其中该处理单元根据以下情况,决定该曝光范围:(1)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值低于一状态预设值或该影像特征值高于一特征预设值时,该处理单元决定该曝光范围为一低曝光范围;(2)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值不低于该状态预设值且该影像特征值不高于该特征预设值时,该处理单元决定该曝光范围为该高曝光范围;(3)当该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值高于该状态预设值且该影像特征值低于该特征预设值,该处理单元决定该曝光范围为该高曝光范围;(4)当该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值不高于该状态预设值或该影像特征值不低于该特征预设值,该处理单元决定该曝光范围为该低曝光范围。 | ||
地址 | 新竹市新竹科学园区创新一路5号5楼 |