发明名称 |
用于测量齿部的齿宽的齿部测量设备 |
摘要 |
本实用新型涉及一种用于测量齿部(1)的齿宽ZW的齿部测量设备,所述齿部测量设备具有测量设备基架(5)、长度测量装置、有待导入到所述齿部(1)的第一齿隙中的第一探测元件和有待导入到第二齿隙中的第二探测元件。根据本实用新型提供一种齿部测量设备,利用该齿部测量设备通过简单地操作所述齿部测量设备能够提高齿宽测量的准确性。这点如下实现:所述探测元件是测量卡爪6a、6b,并且所述测量卡爪6a、6b具有用于支承在有待测量的齿顶3上的测量支座13a、13b。 |
申请公布号 |
CN204240913U |
申请公布日期 |
2015.04.01 |
申请号 |
CN201420438501.3 |
申请日期 |
2014.06.24 |
申请人 |
罗伯特·博世有限公司 |
发明人 |
D·德赖尔 |
分类号 |
G01B5/14(2006.01)I;G01B3/20(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/14(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
汲长志;胡斌 |
主权项 |
用于测量齿部(1)的齿宽(ZW)的齿部测量设备,所述齿部测量设备具有测量设备基架(5)、长度测量装置、有待导入到所述齿部(1)的第一齿隙中的第一探测元件和有待导入到第二齿隙中的第二探测元件,其特征在于,每个探测元件都是测量卡爪(6a、6b),并且所述测量卡爪(6a、6b)具有用于支承在有待测量的齿顶(3)上的测量支座(13a、13b)。 |
地址 |
德国斯图加特 |