发明名称 调整取样频率之扫描方法及使用该扫描方法的触控装置;Scanning Method Having Adjustable Sampling Frequency And Touch Device Using The Same
摘要 本发明系一种调整取样频率之扫描方法及使用该扫描方法的触控装置,其中该扫描方法系对触控单元进行预先扫描,以获得第一及第二轴方向之其中至少一方向的各迹线所对应之电容补偿值;依照前述各该迹线所对应的电容补偿值来决定其所分别对应的一取样频率;以前述步骤所决定的该等取样频率对该触控单元进行取样;由于该电容补偿值反应该第一轴方向迹线的RC负载值,故于实际扫描时即可依实际RC负载值调整接收感应讯号时的取样频率,提高提高座标回报率。; determining a corresponding sampling frequency based on the compensation capacitance; and scanning the touch device again using the sampling frequency determined by the foregoing steps. Since the compensation capacitance represents the RC loading of it's driven first-axis line, a report rate is effectively increased.
申请公布号 TW201512952 申请公布日期 2015.04.01
申请号 TW102133790 申请日期 2013.09.18
申请人 义隆电子股份有限公司 ELAN MICROELECTRONICS CORPORATION 发明人 黄荣寿 HUANG, JUNG SHOU;吴珈穆 WU, CHIA MU
分类号 G06F3/044(2006.01) 主分类号 G06F3/044(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒林景郁
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区创新一路12号 TW