发明名称 测量电容器电容的方法
摘要 一种用于测量测试电容器电容的电容器测量电路,包括:第一晶体管,具有第一源极-漏极路径,该第一源极-漏极路径连接到测试电容器的第一电容器极板和地电位之间;第二晶体管,具有第二源极-漏极路径,该第二源极-漏极路径连接到测试电容器的第二电容器极板和地电位之间;以及电流测量器件,配置为测量测试电容器的第一充电电流和第二充电电流。第一充电电流和第二充电电流以相反方向流到测试电容器。
申请公布号 CN102445603B 申请公布日期 2015.04.01
申请号 CN201110215627.5 申请日期 2011.07.28
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 刘明达;张志强;陈居富;黄炳祥
分类号 G01R27/26(2006.01)I 主分类号 G01R27/26(2006.01)I
代理机构 北京德恒律师事务所 11306 代理人 陆鑫;高雪琴
主权项 一种用于测量测试电容器电容的电容器测量电路,所述电容器测量电路包括:电源电压节点;电流测量器件,连接到所述电源电压节点;第一PMOS晶体管,包括:源极,连接到所述电流测量器件;以及漏极,连接到所述测试电容器的第一电容器极板;第一NMOS晶体管,包括:源极,接地;以及漏极,连接到所述测试电容器的所述第一电容器极板;第二PMOS晶体管,包括:源极,连接到所述电流测量器件;以及漏极,连接到所述测试电容器的第二电容器极板;第二NMOS晶体管,包括:源极,接地;以及漏极,连接到所述测试电容器的所述第二电容器极板;以及控制电路,连接到所述第一PMOS晶体管的栅极和所述第二PMOS晶体管的栅极以及所述第一NMOS晶体管的栅极和所述第二NMOS晶体管的栅极;其中,所述控制电路配置为:将第一非叠加时钟周期信号提供到所述第一PMOS晶体管的栅极和所述第一NMOS晶体管的栅极;将第二非叠加时钟周期信号提供到所述第二PMOS晶体管的栅极和所述第二NMOS晶体管的栅极;提供第三信号,以同步导通和截止所述第一PMOS晶体管和所述第二PMOS晶体管;以及提供第四信号,以同步导通和截止所述第一NMOS晶体管和所述第二NMOS晶体管,其中,所述第三信号和所述第四信号是非叠加时钟周期信号。
地址 中国台湾新竹