| 发明名称 | 用于测量集成电路中的功耗的方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于测量集成电路中的功耗的方法和系统。提供了一种用于确定集成电路(10)内的功率域(12)的功耗的方法(100)。在第一步骤(110)中，确定这个功率域(12)的局部电源阻抗剖面(Z(f))。随后，在功率域(12)中执行良定义的周期性活动(50)的同时测量局部时间分辨电源电压(U(t))(步骤120)。因此累积一组时域测量的电压数据(U(t))并把其变换到频域以产生电压谱(U(f))(步骤130)。通过使用这个功率域(12)的电源阻抗剖面(Z(f))，按照I(t)＝F<sub>f</sub><sup>-1</sup>{U(f)/Z(f)}从该电压剖面(U(f))计算电流谱I(t)(步骤140)。最后，从测量的电压谱(U(t))和计算的电流谱(I(t))确定时间分辨功耗谱P(t)(步骤150)。可以把该功耗(P(t))与基准(P<sub>ref</sub>(t))进行比较(步骤160)以验证功率域(12)内的功耗是否符合预期。 | ||
| 申请公布号 | CN102478603B | 申请公布日期 | 2015.04.01 |
| 申请号 | CN201110259186.9 | 申请日期 | 2011.09.05 |
| 申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | M·埃科特;R·弗莱驰;C·赛维尔罗;O·A·托雷特;T-M·温克尔;J·萨珀 |
| 分类号 | G01R21/06(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R21/06(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 付建军 |
| 主权项 | 一种用于确定功耗的方法，包括下述步骤：‑确定集成电路内的多个功率域中的一个功率域的局部电源阻抗剖面，‑在集成电路执行特定于所述功率域的周期性活动的同时测量该功率域的局部电源电压；‑求得所测量的该功率域的局部电源电压的电压谱；‑从所述阻抗剖面和所述电压谱计算关联的电源电流；以及‑从所述电源电流和测量的电源电压确定集成电路内的多个功率域中的该功率域的功耗谱。 | ||
| 地址 | 美国纽约 | ||