发明名称 超声波检查装置
摘要 本发明提供一种超声波检查装置,能够降低由发送超声波束的展宽带来的影响,提高SN比,提高分辨率,并能够以不依赖于发送束的宽度的高的分辨率得到具有最佳的空间分辨率的清晰的超声波图像。具备数据处理部,使探头多次进行超声波束的发送,获取与各个超声波束的发送对应的第一元件数据,根据多个第一元件数据生成与第一元件数据中的任一个对应的第二元件数据,数据处理部根据求出第二元件数据的位置的深度来选择用于生成第二元件数据的两个以上的第一元件数据,从而解决上述课题。
申请公布号 CN104487002A 申请公布日期 2015.04.01
申请号 CN201380037373.X 申请日期 2013.07.11
申请人 富士胶片株式会社 发明人 山本拓明
分类号 A61B8/00(2006.01)I 主分类号 A61B8/00(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 熊传芳;苏卉
主权项 一种超声波检查装置,使用超声波束对检查对象物进行检查,所述超声波检查装置的特征在于,具备:排列有多个元件的探头,该多个元件发送所述超声波束且接收由所述检查对象物反射的超声波回波而输出与接收到的超声波回波对应的模拟元件信号;发送部,使所述探头多次进行使用多个所述元件以形成预定的发送焦点的方式发送所述超声波束;接收部,与各所述超声波束的发送对应而接收多个所述元件所输出的模拟元件信号并实施预定的处理;AD转换部,对所述接收部处理后的模拟元件信号进行A/D转换而形成作为数字元件信号的第一元件数据;及数据处理部,根据多个所述第一元件数据生成与所述第一元件数据中的任一个对应的第二元件数据,所述数据处理部根据求出所述第二元件数据的位置的深度,变更用于生成所述第二元件数据的两个以上的所述第一元件数据的获取条件。
地址 日本东京
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