发明名称 |
分析装置及分析方法 |
摘要 |
提供一种在对试样进行多个分析处理时能够提高作为整体的分析处理的效率的技术。分析装置(A)具备:对于试样进行第一分析处理的第一分析部(A1);对于试样进行第二分析处理的第二分析部(A2);对于试样进行能够在比第一分析处理更短的短时间内导出分析结果的短时间分析处理的短时间分析部(A3);及基于短时间分析处理的结果,在第一分析处理的结果被导出之前判别是否进行第二分析处理的判别部(63)。 |
申请公布号 |
CN102918398B |
申请公布日期 |
2015.04.01 |
申请号 |
CN201180027093.1 |
申请日期 |
2011.05.31 |
申请人 |
爱科来株式会社 |
发明人 |
藤本浩司;古里纪明 |
分类号 |
G01N35/00(2006.01)I;G01N35/08(2006.01)I;G01N35/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01N35/00(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
高培培;车文 |
主权项 |
一种分析装置,对试样进行规定的分析处理,其特征在于,具备:第一分析部,对于试样进行第一分析处理;第二分析部,对于试样进行第二分析处理;试样积存部,用于对试样进行暂时积存;一个管嘴,从试样容器提取试样而向所述第一分析部及试样积存部供给;短时间分析部,对于向所述试样积存部供给的试样进行能够在比所述第一分析处理更短的短时间内导出分析结果的短时间分析处理;及控制部,基于所述短时间分析处理的结果,在所述第一分析处理的结果被导出之前判别是否进行所述第二分析处理,在判别为进行所述第二分析处理的情况下,向所述第二分析部供给所述试样积存部内的试样,在判别为不进行所述第二分析处理的情况下,废弃所述试样积存部内的试样。 |
地址 |
日本京都府 |