发明名称 金属探测器调校装置
摘要 本发明公开一种金属探测器调校装置,包括有MCU、显示控制电路、DAC控制电路、第一DDS控制电路、第二DDS控制电路、第一低通滤波电路、第二低通滤波电路、第一放大电路和第二放大电路;通过配合利用各个电路,实现了一个信号发生器,数字合成来模拟一些常见金属在金属探测器中的响应信号,在金属探测器的生产过程中,直接将本发明产生的信号输入至金属探测器的探测电路中,就可以进调试和校准,而不必连接探测线圈并通过探测线圈产生真实的物理信号来进行调试,从而摆脱了受环境电磁干扰的限制,降低了生产难度,大大提高了生产效率。
申请公布号 CN104483716A 申请公布日期 2015.04.01
申请号 CN201410661387.5 申请日期 2014.11.19
申请人 东莞市南星电子有限公司 发明人 范振粤;向志文;吴跃程;徐培彬;杨晓东;杜明辉;袁仁坤;范立斌;罗斌;劳景南;吴土乾;杜绪明;杨运勋
分类号 G01V13/00(2006.01)I;G01V3/10(2006.01)I 主分类号 G01V13/00(2006.01)I
代理机构 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 代理人 徐勋夫
主权项 一种金属探测器调校装置,其特征在于:包括有MCU、显示控制电路、DAC控制电路、第一DDS控制电路、第二DDS控制电路、第一低通滤波电路、第二低通滤波电路、第一放大电路和第二放大电路;该显示控制电路、DAC控制电路、第一DDS控制电路和第二DDS控制电路均与MCU连接,该显示控制电路通过按键控制选择模拟信号的频率,模拟金属的种类和深度;该第一DDS控制电路和第二DDS控制电路分别产生仿真的发射信号和接收信号;该DAC控制电路控制第二DDS控制电路的满量程控制输入端的电压来实现第二DDS控制电路输出信号的幅度变化;该DAC控制电路连接第二DDS控制电路,该第一低通滤波电路和第二低通滤波电路分别对应连接第一DDS控制电路和第二DDS控制电路,该第一低通滤波电路和第二低通滤波电路分别滤除第一DDS控制电路和第二DDS控制电路输出的信号中的谐波;该第一放大电路和第二放大电路分别对应连接第一低通滤波电路和第二低通滤波电路,该第一放大电路短接金属探测器的发射线圈而连接金属探测器的探测电路,该第二放大电路短接金属探测器的接收线圈而连接金属探测器的探测电路,该第一放大电路和第二放大电路分别将经过滤波后的输出信号进行倍数的放大。
地址 523000 广东省东莞市沙田镇民田村成田路3号B栋东莞市南星电子有限公司
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