发明名称 晶片封装结构及形成方法;A packaging structure and a method of making the same.
摘要 一种晶片封装结构及形成方法,所述晶片封装结构的形成方法包括:沿着待封装晶圆的切割道方向对待封装晶圆进行蚀刻以形成沟槽,所述沟槽的宽度大于切割道的宽度;在所述切割道两侧的沟槽底部表面形成第二焊垫和连接结构;利用所述连接结构将晶片和封装电路板固定连接。由于用于固定连接的连接结构位于所述沟槽内,因此本发明的晶片封装结构的总厚度小于晶片的厚度、连接结构的高度和封装电路板的厚度之和,从而有利于产品小型化。
申请公布号 TW201513244 申请公布日期 2015.04.01
申请号 TW103128253 申请日期 2014.08.18
申请人 苏州晶方半导体科技股份有限公司 CHINA WAFER LEVEL CSP CO., LTD. 发明人 王之奇 WANG, ZHIQI;喻琼 YU, QIONG;王文斌 WANG, WENBIN;王蔚 WANG, WEI
分类号 H01L21/60(2006.01);H01L21/304(2006.01) 主分类号 H01L21/60(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒林景郁
主权项
地址 中国大陆 CN