发明名称 附多层反射膜之基板、EUV微影用反射型光罩基底、EUV微影用反射型光罩及其制造方法、以及半导体装置之制造方法
摘要 本发明之目的在于提供一种给予获得高反射率、且耐洗净性优异之反射型光罩的附多层反射膜之基板。;本发明之附多层反射膜之基板,其具有:基板;多层反射膜,其形成于该基板上,且周期性地积层复数层包含作为高折射率材料之Si之层与包含低折射率材料之层而成;及Ru系保护膜,其形成于该多层反射膜上,保护上述多层反射膜;且上述多层反射膜之与基板为相反侧之表面层系上述包含Si之层,进而,于上述多层反射膜与上述Ru系保护膜之间具有阻碍Si朝向Ru系保护膜移行之阻挡层,且上述Si之至少一部分扩散至上述阻挡层。
申请公布号 TW201513168 申请公布日期 2015.04.01
申请号 TW103125180 申请日期 2014.07.22
申请人 HOYA股份有限公司 HOYA CORPORATION 发明人 尾上贵弘 ONOUE, TAKAHIRO;小坂井弘文 KOZAKAI, HIROFUMI
分类号 H01L21/027(2006.01);G03F1/24(2012.01);G03F1/62(2012.01);G03F1/52(2012.01);G03F1/60(2012.01);G03F1/38(2012.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本 JP