发明名称 |
附多层反射膜之基板、EUV微影用反射型光罩基底、EUV微影用反射型光罩及其制造方法、以及半导体装置之制造方法 |
摘要 |
本发明之目的在于提供一种给予获得高反射率、且耐洗净性优异之反射型光罩的附多层反射膜之基板。;本发明之附多层反射膜之基板,其具有:基板;多层反射膜,其形成于该基板上,且周期性地积层复数层包含作为高折射率材料之Si之层与包含低折射率材料之层而成;及Ru系保护膜,其形成于该多层反射膜上,保护上述多层反射膜;且上述多层反射膜之与基板为相反侧之表面层系上述包含Si之层,进而,于上述多层反射膜与上述Ru系保护膜之间具有阻碍Si朝向Ru系保护膜移行之阻挡层,且上述Si之至少一部分扩散至上述阻挡层。 |
申请公布号 |
TW201513168 |
申请公布日期 |
2015.04.01 |
申请号 |
TW103125180 |
申请日期 |
2014.07.22 |
申请人 |
HOYA股份有限公司 HOYA CORPORATION |
发明人 |
尾上贵弘 ONOUE, TAKAHIRO;小坂井弘文 KOZAKAI, HIROFUMI |
分类号 |
H01L21/027(2006.01);G03F1/24(2012.01);G03F1/62(2012.01);G03F1/52(2012.01);G03F1/60(2012.01);G03F1/38(2012.01) |
主分类号 |
H01L21/027(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
日本 JP |