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发明名称
X線装置、X線照射方法、及び構造物の製造方法
摘要
検出精度の低下を抑制できるX線装置を提供する。X線装置は、物体にX線を照射して物体を通過するX線を検出する。X線装置は、X線を射出するX線源と、物体を保持するステージと、X線源から射出され、物体を通過したX線の少なくとも一部を検出する検出装置と、X線源、ステージ、及び検出装置が配置される内部空間を形成するチャンバ部材と、内部空間を、X線源が配置される第1空間と検出装置が配置される第2空間とに分ける仕切部と、を備える。
申请公布号
JPWO2013051594(A1)
申请公布日期
2015.03.30
申请号
JP20130537526
申请日期
2012.10.03
申请人
株式会社ニコン
发明人
渡部 貴志
分类号
G01N23/04
主分类号
G01N23/04
代理机构
代理人
主权项
地址
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