发明名称 プローブカード及びノイズ測定装置
摘要 数MHz以上の高周波数帯域においてノイズを測定することができるプローブカード及びノイズ測定装置を提供する。MOS型電界効果トランジスタ(14)に当接するプローブ(8)を有し、前記MOS型電界効果トランジスタ(14)のノイズを測定するプローブカード(6A)において、前記MOS型電界効果トランジスタ(14)の出力信号を増幅する増幅回路(56A)を一体に設けた。
申请公布号 JPWO2013051515(A1) 申请公布日期 2015.03.30
申请号 JP20130537501 申请日期 2012.10.01
申请人 国立大学法人 筑波大学 发明人 大毛利 健治;蓮沼 隆
分类号 G01R1/073;G01R31/26 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
地址