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发明名称
プローブカード及びノイズ測定装置
摘要
数MHz以上の高周波数帯域においてノイズを測定することができるプローブカード及びノイズ測定装置を提供する。MOS型電界効果トランジスタ(14)に当接するプローブ(8)を有し、前記MOS型電界効果トランジスタ(14)のノイズを測定するプローブカード(6A)において、前記MOS型電界効果トランジスタ(14)の出力信号を増幅する増幅回路(56A)を一体に設けた。
申请公布号
JPWO2013051515(A1)
申请公布日期
2015.03.30
申请号
JP20130537501
申请日期
2012.10.01
申请人
国立大学法人 筑波大学
发明人
大毛利 健治;蓮沼 隆
分类号
G01R1/073;G01R31/26
主分类号
G01R1/073
代理机构
代理人
主权项
地址
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