| 摘要 |
<p>Le domaine général de l'invention est celui des télescopes comportant un système optique et des moyens d'analyse (D) de la surface d'onde disposés dans le plan de focalisation dudit système optique. Le système optique comprend une optique de focalisation et une optique d'agrandissement (M3, M4, M6), l'optique d'agrandissement comportant un miroir déformable (M5) à déformation contrôlée. Le télescope comporte des moyens de contrôle (M7, M8, M9) du miroir déformable comprenant une source (S) disposée de façon que l'image de ladite source, après réflexion sur le miroir déformable, se focalise sur le moyen d'analyse de la surface d'onde. Dans des variantes de réalisation, les moyens de contrôle comportent un miroir mobile ayant deux positions, une de repos et une de contrôle. La source peut être disposée soit dans le plan focal intermédiaire de l'optique de focalisation, soit au foyer d'un miroir de contrôle, soit encore au voisinage du plan de focalisation du système optique.</p> |
