发明名称 エッチング方法及び装置
摘要 酸化シリコン膜の窒化シリコン膜に対する選択比を高くできるエッチング方法及び装置を提供する。処理容器10に、プラズマ励起用ガス及びCHF系ガスを含む処理ガスを、CHF系ガスのプラズマ励起用ガスに対する流量比が1/15以上になるように導入する。処理容器10内にプラズマを発生させることによって、処理容器10内の基板Wに形成された酸化シリコン膜5を前記窒化シリコン膜1に対して選択的にエッチングする。
申请公布号 JPWO2013047464(A1) 申请公布日期 2015.03.26
申请号 JP20130536279 申请日期 2012.09.25
申请人 東京エレクトロン株式会社 发明人 関根 隆之;佐々木 勝;松本 直樹;新福 英一郎
分类号 H01L21/3065;H05H1/46 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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