发明名称 一种基于应力分布的电子收集器实现方法
摘要 本发明涉及一种基于应力分布的电子收集器实现方法,包括以下内容:1)根据半导体材料光生载流子寿命及扩散距离,确定电子收集区域;2)根据收集效果,采用光学变换原理设定三个电子迁移率值;3)根据设定的环形电子收集区域的径向电子迁移率u<sub>r</sub>和环向电子迁移率u<sub>θ</sub>分别得到A扇形区域和B扇形区域所对应的电子迁移率分布;4)根据计算得到的A扇形区域和B扇形区域的电子迁移率分布,通过半导体的迁移率大小和应力大小的关系,计算得到环形电子收集区域的A扇形区域和B扇形区域的应力分布;5)计算得到C区域的应力分布;6)根据求解得到应力分布,将各区域分别施加相应应力,即制作得到一电子收集器。本发明可以广泛应用于半导体器件、太阳能等领域。
申请公布号 CN104465847A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410814988.5 申请日期 2014.12.24
申请人 清华大学 发明人 周济;兰楚文;李勃
分类号 H01L31/10(2006.01)I 主分类号 H01L31/10(2006.01)I
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人 徐宁;刘美丽
主权项 一种基于应力分布的电子收集器实现方法,其特征在于包括以下内容:1)根据半导体材料光生载流子寿命及扩散距离,确定电子收集区域,具体过程为:1.1)采用半导体材料制作一基底,根据半导体材料光生载流子寿命及扩散距离,在基底上设置一环形电子收集区域,并将环形电子收集区域间隔分割成若干扇形区域;1.2)将所有扇形区域分别定义为A扇形区域和B扇形区域相间分布,环形电子收集区域以外的区域定义为C区域;2)根据收集效果,采用光学变换原理设定三个电子迁移率值,其中,三个电子迁移率值分别为环形电子收集区域周围的电子迁移率μ<sub>0</sub>,环形电子收集区域的径向电子迁移率μ<sub>r</sub>以及环形电子收集区域的环向电子迁移率μ<sub>θ</sub>;3)根据设定的环形电子收集区域的径向电子迁移率u<sub>r</sub>和环向电子迁移率u<sub>θ</sub>分别得到A扇形区域和B扇形区域所对应的电子迁移率分布;4)根据计算得到的A扇形区域和B扇形区域的电子迁移率分布,通过半导体的迁移率大小和应力大小的关系,计算得到环形电子收集区域的A扇形区域和B扇形区域的应力分布;5)根据环形电子收集区域周围的电子迁移率μ<sub>0</sub>,通过半导体的迁移率大小和应力大小的关系,计算得到C区域的应力分布;6)根据求解得到的A扇形区域、B扇形区域以及C区域的应力分布,将各区域分别施加相应应力,即制作得到一电子收集器。
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