| 发明名称 | 基于大景深条带图像投影的弯曲粗糙表面缺陷鉴别方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基于大景深条带图像投影的弯曲粗糙表面缺陷鉴别方法，该方法的步骤如下：步骤1)、成像系统将直条纹大景深条带图像成像到移动中的待测样品表面，调整成像系统相对于待测样品表面的位置，使投影条纹的边缘清晰锐利；步骤2)、启动高速相机采集待测样品表面图像信息并将其传递给图像处理模块；步骤3)、图像处理模块提取条纹的两边缘，分析对比条纹两边缘获取缺陷信息；步骤4)、综合分析连续采集的多幅图像，输出鉴别结果。本发明能够形成边缘清晰锐边的条纹，有利于获取条纹边缘形貌特征，排除色斑等非三维缺陷干扰等。 | ||
| 申请公布号 | CN104458764A | 申请公布日期 | 2015.03.25 |
| 申请号 | CN201410773348.4 | 申请日期 | 2014.12.14 |
| 申请人 | 中国科学技术大学 | 发明人 | 王克逸;王玉伟;闫佩正;卢钰 |
| 分类号 | G01N21/95(2006.01)I;G06K9/32(2006.01)I;G06K9/38(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/95(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人 | 杨学明;卢纪 |
| 主权项 | 基于大景深条带图像投影的弯曲粗糙表面缺陷鉴别方法，其特征在于：该方法的步骤如下：步骤1)、成像系统将直条纹大景深条带图像成像到移动中的待测样品表面，调整成像系统相对于待测样品表面的位置，使投影条纹的边缘清晰锐利；步骤2)、启动高速相机采集待测样品表面图像信息并将其传递给图像处理模块；步骤3)、图像处理模块提取条纹的两边缘，分析对比条纹两边缘获取缺陷信息；步骤4)、综合分析连续采集的多幅图像，输出鉴别结果。 | ||
| 地址 | 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号 | ||