发明名称 金属间合物填充材料的转接板的制造工艺
摘要 本发明涉及一种金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是,包括以下步骤:第一步:在硅转接板上刻蚀盲孔;第二步:在硅转接板的表面和盲孔的内表面沉积绝缘层和铜层;第三步:将Cu颗粒掺杂的液态钎料填充到盲孔中,Cu颗粒的掺杂量为50%~90%,Cu颗粒的粒径为1微米~50微米;第四步:回流后形成金属间化合物;第五步:去除转接板正面的铜层和部分绝缘层;第六步:在硅转接板的正面制作RDL层和微凸点;第七步:在硅转接板的背面进行减薄工艺,露出金属间化合物的底部;第八步:在硅转接板的背面制作背面RDL层和背面微凸点,从而完成转接板的制作。本发明可有效防止裂纹的出现,提高产品的可靠性;同时,极大的减少了工艺时间。
申请公布号 CN104465504A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410753225.4 申请日期 2014.12.10
申请人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 发明人 何洪文;孙鹏;曹立强
分类号 H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/768(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 曹祖良;刘海
主权项 一种金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是,包括以下步骤:第一步:在硅转接板(1)上刻蚀盲孔(2);第二步:在硅转接板(1)的表面和盲孔(2)的内表面沉积绝缘层(8)和铜层(9),绝缘层(8)的厚度为10 nm~10μm,铜层(9)的厚度为10 nm~10μm;第三步:将Cu颗粒掺杂的液态钎料填充到盲孔(2)中, Cu颗粒的掺杂量为50%~90%,Cu颗粒的粒径为1微米~50微米;第四步:回流后形成金属间化合物(5),回流过程中:升温至220~300℃,并在220℃以上停留30秒后,再降温至常温;第五步,将硅转接板(1)表面的铜层(8)去除,保留绝缘层(8);第六步:在硅转接板(1)的正面制作RDL层(3)和微凸点(4);第七步:在硅转接板(1)的背面进行减薄工艺,露出金属间化合物(5)的底部;第八步:在硅转接板(1)的背面制作背面RDL层(6)和背面微凸点(7),从而完成转接板的制作。
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