发明名称 一种设备的全局设备效率报表的生成方法
摘要 本发明公开了一种设备的全局设备效率报表的生成方法,涉及半导体制造领域。该方法为:根据每个芯片生产过程中的状态,将所述芯片生产的总时间根据生产芯片的设备状态划分为多个单元;将所述设备状态采用优先权的方式进行划分,每个所述单元与一个优先权代码相对应,所述优先权代码由两位数字组成,第一位表示时间分类,第二位表示设备状态;计算机将设备状态按照所述优先权的顺序生成全局设备效率报表。本发明通过细化和量化设备状态,生成细化精准的设备OEE报表,以便生产管理者能够精准掌握生产设备状态,合理安排生产计划或实时调整生产计划,或即时发现设备生产问题及即时纠正。提高设备利用效率。
申请公布号 CN104463403A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410164060.7 申请日期 2014.04.22
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 杨刚
分类号 G06Q10/06(2012.01)I;G06Q50/04(2012.01)I 主分类号 G06Q10/06(2012.01)I
代理机构 上海申新律师事务所 31272 代理人 吴俊
主权项 一种设备的全局设备效率报表的生成方法,其特征在于,包括下述步骤:步骤1.根据每个芯片生产过程中的状态,将所述芯片生产的总时间根据生产芯片的设备状态划分为多个单元;步骤2.将所述设备状态采用优先权的方式进行划分,每个所述单元与一个优先权代码相对应,所述优先权代码由两位数字组成,第一位表示时间分类,第二位表示设备状态;步骤3.计算机将设备状态按照所述优先权的顺序生成全局设备效率报表。
地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号