一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法

摘要

本发明公开了一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，包括有以下步骤：根据电容触控膜的尺寸将其按照长和宽的方向分成单个电容检测芯片处理的分区；分别按照电容触控膜长和宽的方向区域的个数连接电容检测芯片；分别触发电容触控膜长和宽的方向连接的电容检测芯片同步扫描；读取上述同步扫描得到的坐标数据，计算电容触控膜的触摸坐标信息。本发明方法对电容触控膜采用分区并行处理的方法，从长和宽两个方向将膜分成适用于单个芯片处理的分区，解决了大尺寸电容触控膜难以快速扫描检测的问题，并且利用并行处理将处理时间极大地减小，提高处理效率和精度。本发明作为一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法可广泛应用于电容检测领域。

主权项

一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，其特征在于：包括有以下步骤：A、根据电容触控膜的尺寸，将电容触控膜按照长和宽的方向分成单个电容检测芯片处理的分区；B、分别按照电容触控膜长和宽的方向区域的个数连接电容检测芯片；C、触发电容触控膜长的方向连接的电容检测芯片同步扫描；D、触发电容触控膜宽的方向连接的电容检测芯片同步扫描；E、读取上述长和宽的方向同步扫描得到的坐标数据，计算电容触控膜的触摸坐标信息。