发明名称 In−Ga−Zn系酸化物焼結体スパッタリングターゲット及び薄膜トランジスタ
摘要 <P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering target composed of a In-Ga-Zn-based oxide sintered compact with which a uniform thin-film transistor panel with large area can be manufactured. <P>SOLUTION: The oxide sintered compact contains In (indium), Zn (zinc), Ga (gallium), and Sn (tin), and the atomic ratio of Sn (tin) satisfies 0.01<Sn/(In+Ga+Zn+Sn)<0.10. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
申请公布号 JP5690063(B2) 申请公布日期 2015.03.25
申请号 JP20090262799 申请日期 2009.11.18
申请人 出光興産株式会社 发明人 矢野 公規;糸瀬 将之
分类号 C04B35/00;C23C14/08;C23C14/34;H01L21/336;H01L21/363;H01L29/786 主分类号 C04B35/00
代理机构 代理人
主权项
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