发明名称 MEMS三维静动态测试系统
摘要 MEMS三维静动态测试系统属于测试系统领域,尤其是涉及一种MEMS三维静动态测试系统的改进。本发明提供一种测试过程具有高速可视化非接触性特点的MEMS三维静动态测试系统。本发明包括显示干涉仪、显微视觉模块、频闪照明模块、PZT驱动器、PZT相移器、多功能数据卡、信号放大器、图像采集模块,其结构要点是:显示干涉仪、显微视觉模块、频闪照明模块、PZT驱动器、PZT相移器、多功能数据卡、信号放大器、图像采集模块依次相连。
申请公布号 CN104457561A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201310418413.7 申请日期 2013.09.14
申请人 王颖 发明人 王颖;詹旭涛
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I;G01B11/16(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 MEMS三维静动态测试系统包括显示干涉仪、显微视觉模块、频闪照明模块、PZT驱动器、PZT相移器、多功能数据卡、信号放大器、图像采集模块,其特征在于显示干涉仪、显微视觉模块、频闪照明模块、PZT驱动器、PZT相移器、多功能数据卡、信号放大器、图像采集模块依次相连。
地址 110179 辽宁省沈阳市浑南新区世纪路15号火炬创新创业园301室