发明名称 |
一种高高宽比X射线透镜的制备的方法 |
摘要 |
本发明属于电子束光刻加工技术领域,具体为一种高高宽比X射线透镜的制备方法。其步骤包括:在淀积有金属种子层的基片或者隔膜上,利用电子束曝光技术在光刻胶上制备出X光会聚透镜的设计图形,然后利用纳米电镀的工艺,得到高高宽比的condenser结构,最后利用丙酮等有机溶液将光刻胶溶解,从而得到具有高高宽比的应用于X射线成像领域的condenser透镜。 |
申请公布号 |
CN104464870A |
申请公布日期 |
2015.03.25 |
申请号 |
CN201410728136.4 |
申请日期 |
2014.12.03 |
申请人 |
复旦大学 |
发明人 |
陈宜方;刘建朋;邵金海;陆冰睿 |
分类号 |
G21K1/06(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I |
主分类号 |
G21K1/06(2006.01)I |
代理机构 |
上海正旦专利代理有限公司 31200 |
代理人 |
陆飞;盛志范 |
主权项 |
一种高高宽比X射线透镜的制备方法,其特征在于具体步骤如下:(1)在基底上制备一层金属导电层,作为种子层;(2)在基底上旋涂光刻胶,利用电子束光刻的方法制备得到X射线透镜的光刻胶的图形;(3)采用纳米电镀的工艺,对步骤(2)得到的样品进行电镀,得到高高宽比的X射线透镜;(4)将电镀的样品放入有机溶剂中,将表面的光刻胶清洗干净;然后将基底表面的导电种子层去掉。 |
地址 |
200433 上海市杨浦区邯郸路220号 |