发明名称 |
一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法,所述方法是首先建立相同尺寸、相同晶向的各标准品的红外吸收光谱在扣除“本底”后、在波数为2000~3000cm<sup>-1</sup>区域内的谱线所对应的峰位面积与铈离子浓度的标准关系曲线,然后通过测定相同尺寸和晶向的待测同质晶体样品的红外吸收谱,最后根据所建立的标准关系曲线直接得到待测样品中的铈离子浓度。本发明方法不需要每次测试都要对样品进行破坏性操作,是一种方便、快捷、非破坏性的创新测试方法,对掺铈闪烁晶体的性能分析和研究具有重要意义,同时也对测定其它稀土掺杂闪烁材料中的掺杂离子的浓度测定具有参考价值。 |
申请公布号 |
CN103344604B |
申请公布日期 |
2015.03.25 |
申请号 |
CN201310285533.4 |
申请日期 |
2013.07.08 |
申请人 |
中国科学院上海硅酸盐研究所;上海硅酸盐研究所中试基地 |
发明人 |
戴灵恩;冯锡淇;吴承;徐权;陆晟;丁栋舟;唐佳;杨建华 |
分类号 |
G01N21/3563(2014.01)I |
主分类号 |
G01N21/3563(2014.01)I |
代理机构 |
上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 |
代理人 |
何葆芳 |
主权项 |
一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法,其特征在于,包括如下步骤:a)制备若干掺杂浓度的掺铈闪烁晶体标准品及未掺杂铈的同质纯闪烁晶体标准品;b)按相同尺寸、相同晶向裁切步骤a)所制备的各标准品;c)沿长度方向测试步骤b)所裁切的各标准品的红外吸收光谱;d)以未掺杂铈的同质纯闪烁晶体标准品的红外吸收光谱为“本底”,计算每个掺铈闪烁晶体标准品的红外吸收光谱在扣除“本底”后、在波数为2000~3000cm<sup>‑1</sup>区域内的谱线所对应的峰位面积;e)采用辉光放电质谱法、电感耦合等离子体‑质谱法或X射线光电子能谱法对进行上述红外测试后的各掺铈闪烁晶体标准品进行铈离子浓度测定;f)建立峰位面积与铈离子浓度的标准关系曲线;g)与步骤b)相同尺寸、相同晶向裁切待测同质晶体样品,沿长度方向测试其红外吸收光谱,并计算其红外吸收光谱在扣除“本底”后、在波数为2000~3000cm<sup>‑1</sup>区域内的谱线所对应的峰位面积,然后根据步骤f)所建立的标准关系曲线即得待测同质晶体样品中的铈离子浓度。 |
地址 |
200050 上海市长宁区定西路1295号 |