| 发明名称 | 基于压缩相位恢复的稀疏微波成像方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种基于压缩相位恢复的稀疏微波成像方法。该稀疏微波成像方法包括：步骤A：根据观测目标场景的原始雷达回波数据，构建雷达回波强度信号生成模型；步骤B：利用雷达回波强度信号生成模型，确定重建目标场景后向散射系数的优化目标；以及步骤C：利用压缩相位恢复算法，对重建目标场景后向散射系数的优化目标进行求解，估计目标场景的后向散射系数。本发明利用雷达回波强度信号，重建目标场景的后向散射系数，实现微波成像，从而避免了因雷达回波数据相位误差无法精确补偿所导致的对成像结果的负面影响。 | ||
| 申请公布号 | CN104459695A | 申请公布日期 | 2015.03.25 |
| 申请号 | CN201410743546.6 | 申请日期 | 2014.12.08 |
| 申请人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明人 | 张冰尘;全相印;张拓;蒋成龙;吴一戎 |
| 分类号 | G01S13/90(2006.01)I | 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 曹玲柱 |
| 主权项 | 一种基于压缩相位恢复的稀疏微波成像方法，其特征在于，包括：步骤A：根据观测目标场景的原始雷达回波数据，构建雷达回波强度信号生成模型；步骤B：利用雷达回波强度信号生成模型，确定重建目标场景后向散射系数的优化目标；以及步骤C：利用压缩相位恢复算法，对重建目标场景后向散射系数的优化目标进行求解，估计目标场景的后向散射系数。 | ||
| 地址 | 100190 北京市海淀区北四环西路19号 | ||