发明名称 双站底部测试分光机
摘要 本发明提供了一种双站底部测试分光机,包括:振动盘、抓料机构、第一定位机构、第一底部测试机构、第二定位机构、第二底部测试机构、分度盘机构、吹料机构;振动盘将物料输送至平轨定位处,然后抓料机构将物料通过其吸嘴抓取后,放入分度盘机构的入料口;分度盘机构转动从而将物料运送至第一定位机构处,第一定位机构将物料定位后,由第一底部测试机构对物料进行第一站测试,然后由分度盘机构将物料运送至第二定位机构处,由第二底部测试机构对物料进行第二站测试,最后,由分度盘机构将物料运动至吹料机构处,吹料机构将物料吹入下料软管中。由于采用了上述结构,本发明具有结构简单、成本低、可进行两站测试的特点。
申请公布号 CN104438136A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410843653.6 申请日期 2014.12.30
申请人 深圳市炫硕光电科技有限公司 发明人 赵玉涛
分类号 B07C5/342(2006.01)I;B07C5/36(2006.01)I 主分类号 B07C5/342(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种双站底部测试分光机,其特征在于,包括:振动盘(1)、抓料机构(2)、第一定位机构(3)、第一底部测试机构(4)、第二定位机构(5)、第二底部测试机构(6)、分度盘机构(7)、吹料机构(8)等;所述振动盘(1)将物料输送至平轨定位处,然后所述抓料机构(2)将所述物料通过其吸嘴抓取后,放入所述分度盘机构(7)的入料口;所述分度盘机构(7)转动从而将所述物料运送至所述第一定位机构(3)处,所述第一定位机构(3)将所述物料定位后,由所述第一底部测试机构(4)对所述物料进行第一站测试,然后由所述分度盘机构(7)将所述物料运送至所述第二定位机构(5)处,由所述第二底部测试机构(6)对所述物料进行第二站测试,最后,由所述分度盘机构(7)将所述物料运动至所述吹料机构(8)处,所述吹料机构(8)将所述物料吹入下料软管中。
地址 518000 广东省深圳市宝安区大浪街道大浪社区华宁路华联工业区第八栋3-4层