发明名称 分离栅功率器件的栅极结构及工艺方法
摘要 本发明公开了一种分离栅功率器件的栅极结构,在硅衬底上具有沟槽,沟槽侧壁及底部附着有一层氧化层,沟槽内下部具有分离栅极,分离栅极上部同样覆盖有一层氧化硅,与沟槽侧壁及底部的氧化硅层一起将分离栅极形成包围,沟槽上部为栅极,硅衬底表面为绝缘层,金属引线通过穿通绝缘层的接触孔将栅极引出。所述的栅极为U型结构的多晶硅薄栅,其内部填充满金属钨,接触孔与填充的金属钨连接,将栅极引出。本发明还公开了所述分离栅功率器件的栅极结构的工艺方法。
申请公布号 CN104465728A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410835652.7 申请日期 2014.12.24
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 冯岩
分类号 H01L29/423(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L29/423(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种分离栅功率器件的栅极结构,在硅衬底上具有沟槽,沟槽侧壁及底部附着有一层氧化层,沟槽内下部具有分离栅极,分离栅极上部同样覆盖有一层氧化硅,与沟槽侧壁及底部的氧化硅层一起将分离栅极形成包围,沟槽上部为栅极,硅衬底表面为绝缘层,金属引线通过穿通绝缘层的接触孔将栅极引出,其特征在于:所述的栅极为U型结构,其内部填充有金属,接触孔与填充的金属连接。
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