| 发明名称 | X射线辐射的检测 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种X射线检测器(100)，具有检测单元(10)，其产生对于击中检测单元(10)的X射线辐射(XR)的检测信号，和信号分析模块(30)，其基于检测信号和预定的信号分析参数(P<sub>1</sub>，P<sub>2</sub>)确定一组计数率(R<sub>1</sub>，R<sub>2</sub>，R<sub>1</sub>'，R<sub>2</sub>')，切换控制单元(40)，用于在第一(P<sub>1</sub>)和第二信号分析参数(P<sub>2</sub>)之间的切换，从而基于第一信号分析参数产生对于第一时间段(Δt<sub>1</sub>)的第一组计数率(R<sub>1</sub>，R<sub>1</sub>')和基于第二信号分析参数产生对于第二时间段(Δt<sub>2</sub>)的第二组计数率(R<sub>2</sub>，R<sub>2</sub>')。本发明还涉及一种具有这样的检测器的X射线成像系统以及一种用于使用这样的检测器确定对于X射线辐射的计数率的方法，和一种用于使用这样的检测器校准信号分析参数的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN104459756A | 申请公布日期 | 2015.03.25 |
| 申请号 | CN201410478754.8 | 申请日期 | 2014.09.18 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | E.戈德尔;S.卡普勒 |
| 分类号 | G01T1/164(2006.01)I;A61B6/03(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/164(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 谢强;刘畅 |
| 主权项 | 一种X射线检测器(100)，具有‑检测单元(10)，其产生对于击中检测单元(10)的X射线辐射(XR)的检测信号，和‑信号分析模块(30)，其基于所述检测信号和对于X射线辐射的预定的信号分析参数(P<sub>1</sub>，P<sub>2</sub>)确定对于击中检测单元的X射线辐射的一组计数率(R<sub>1</sub>，R<sub>2</sub>，R<sub>1</sub>'，R<sub>2</sub>')，‑切换控制单元(40)，用于在至少第一信号分析参数(P<sub>1</sub>)和第二信号分析参数(P<sub>2</sub>)之间的切换，从而在预先给出的、击中检测模块的X射线辐射(XR)的情况下：基于第一信号分析参数(P<sub>1</sub>)产生对于第一时间段(Δt<sub>1</sub>)的第一组计数率(R<sub>1</sub>，R<sub>1</sub>')并且基于与所述第一信号分析参数(P<sub>1</sub>)不同的第二信号分析参数(P<sub>2</sub>)产生对于第二时间段(Δt<sub>2</sub>)的第二组计数率(R<sub>2</sub>，R<sub>2</sub>')。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||