发明名称 |
一种直流耦合型高能脉冲磁控溅射方法 |
摘要 |
本发明公开了一种直流耦合型高能脉冲磁控溅射镀膜方法,所述方法包括在高能脉冲磁控溅射电压中耦合入低直流电压,构成磁控溅射耦合电压;由恒定低电压提供稳定的低离化率等离子体,提高薄膜的沉积速率,而高能脉冲电压,实现等离子体的瞬时高离化;协调耦合电压的工作时序,在直流恒压确定的情况下,调控脉冲高压的峰值、频率及占空比,改变耦合电压的脉冲波形,实现对沉积速率和离化率的调整与控制。本发明预置了直流电压,有效降低了脉冲电流迟滞时间;耦合入稳定的直流磁控溅射,有效保证了薄膜沉积速率;建立了一种等离子体离化率可调的HIPIMS磁控溅射技术,为相关科学的研究提供了技术支持。 |
申请公布号 |
CN104451578A |
申请公布日期 |
2015.03.25 |
申请号 |
CN201410652546.5 |
申请日期 |
2014.11.17 |
申请人 |
中国科学院力学研究所 |
发明人 |
夏原;高方圆;李光 |
分类号 |
C23C14/35(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/35(2006.01)I |
代理机构 |
北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 |
代理人 |
胡剑辉 |
主权项 |
一种直流耦合型高能脉冲磁控溅射镀膜方法,所述方法包括在高能脉冲磁控溅射电压中耦合入低直流电压,构成磁控溅射耦合电压;通过协调耦合电压的工作时序,在直流恒压确定的情况下,调控脉冲高压的峰值、频率及占空比,改变耦合电压的脉冲波形,实现对沉积速率和离化率的调整与控制。 |
地址 |
100190 北京市海淀区北四环西路15号 |