发明名称 一种低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法
摘要 本发明实施例提供一种低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法,包括:在基材层上采用包括硅烷、磷化氢和氢气的材料沉积形成一N<sup>+</sup>Si掺杂层,并形成相对的第一掺杂层和第二掺杂层;在N<sup>+</sup>Si掺杂层上沉积一a-Si非晶硅层,对a-Si非晶硅层进行镭射退火、图形蚀刻处理,在第一掺杂层和第二掺杂层之间形成a-Si非晶硅层,且在第一掺杂层和a-Si非晶硅层之间形成第一轻掺杂漏极端、第一掺杂层和a-Si非晶硅层之间分别形成第二轻掺杂漏极端,以及在第一掺杂层和第一轻掺杂漏极端上形成第一磷材料结构、在第二掺杂层和第二轻掺杂漏极端上形成第二磷材料结构。本发明通过镭射退火的高温作用,利用N<sup>+</sup>Si掺杂层形成轻掺杂漏极端和磷材料结构,减少光罩的使用次数,简化制作工艺流程。
申请公布号 CN104465399A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410737078.1 申请日期 2014.12.05
申请人 深圳市华星光电技术有限公司 发明人 李松杉;张晓星
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L21/324(2006.01)I;H01L21/268(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人 何青瓦
主权项 一种低温多晶硅薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括:在基材层上采用包括硅烷、磷化氢和氢气的材料沉积形成一N<sup>+</sup>Si掺杂层,并通过图形蚀刻形成相对的第一掺杂层和第二掺杂层;在N<sup>+</sup>Si掺杂层上沉积一a‑Si非晶硅层,对所述a‑Si非晶硅层进行镭射退火、图形蚀刻处理,以在所述第一掺杂层和第二掺杂层之间的通道形成部分a‑Si非晶硅层,且通过高温作用在所述第一掺杂层和所述部分a‑Si非晶硅层之间形成第一轻掺杂漏极端、所述第一掺杂层和所述部分a‑Si非晶硅层之间分别形成第二轻掺杂漏极端,以及在第一掺杂层和第一轻掺杂漏极端上形成第一磷材料结构、在第二掺杂层和第二轻掺杂漏极端上形成第二磷材料结构;在所述部分a‑Si非晶硅层上制作栅极金属层,并分别在位于所述栅极金属层两侧的第一掺杂层上制作源极金属层、在第二掺杂层上制作漏极金属层。
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