发明名称 一种基于高阻硅衬底的LDMOS MMIC芯片
摘要 本实用新型公开了一种基于高阻硅衬底的LDMOS MMIC芯片,所述芯片上集成有LDMOS晶体管、电感、电容、电阻、金属连线与图形和焊盘,其特征是,所述芯片采用无外延层的P型高阻硅衬底;所述芯片正面的LDMOS源极和芯片背面的金属层通过硅衬底通孔技术连接。本实用新型所达到的有益效果:采用高阻硅衬底,以及硅衬底通孔技术将芯片正面的LDMOS源极与芯片背面的金属层连接。高阻硅衬底使得片上电感、电容、电阻、金属连线与图形和焊盘等的对地寄生电容和损耗降低,LDMOS MMIC的性能得到提高,从而可以减少金属互联的层数,降低成本。同时本技术能降低LDMOS晶体管N型漏极和漂移区与P型衬底之间的PN结电容,使得LDMOS晶体管的输出电容降低,增加了LDMOS器件的带宽与功率转换效率。
申请公布号 CN204230242U 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201420762350.7 申请日期 2014.12.08
申请人 江苏博普电子科技有限责任公司 发明人 陈强;多新中;张复才;沈美根;任春岭
分类号 H01L27/04(2006.01)I 主分类号 H01L27/04(2006.01)I
代理机构 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人 董建林
主权项 一种基于高阻硅衬底的LDMOS MMIC芯片,所述芯片上集成有LDMOS晶体管、电感、电容、电阻、金属连线与图形和焊盘,其特征是,所述芯片正面的LDMOS源极和芯片背面之间设置有衬底;所述衬底采用无外延层的P型高阻硅衬底;所述芯片正面的LDMOS源极和芯片背面的金属层通过硅通孔技术连接。
地址 214131 江苏省无锡市高浪路999号启航大厦11层