LIBS成分分析中光谱空间分布的测量装置及方法

摘要

一种LIBS成分分析中光谱空间分布的测量装置及方法，属于材料成分分析技术领域。装置包括光学平台、实验台支架、下垂直移动调整旋钮、下固定旋钮、下连接块、下垂直移动块、上垂直移动调整旋钮、上固定旋钮、上连接块、上垂直移动块、激光头、激光聚焦透镜、金属样品、右导轨支架、左导轨支架、右高度尺、左高度尺、光轴导轨、标定支架连接块、光纤头光轴滑块、光纤头滑块转接板、光纤固定杆、光纤头固定环、光纤、会聚透镜光轴滑块、会聚透镜滑块转接板、会聚透镜固定杆、会聚透镜、导轨支架光轴连接轴、光谱仪。用于测量脉冲激光击打金属样品产生的等离子体光谱的空间分布，优点是可以有效的测出等离子体光谱的空间分布，使用方便，成本低廉。

主权项

一种LIBS成分分析中光谱空间分布的测量装置，其特征在于，包括光学平台、实验台支架、下垂直移动调整旋钮、下固定旋钮、下连接块、下垂直移动块、上垂直移动调整旋钮、上固定旋钮、上连接块、上垂直移动块、激光头、激光聚焦透镜、金属样品、右导轨支架、左导轨支架、右高度尺、左高度尺、光轴导轨、标定支架连接块、光纤头光轴滑块、光纤头滑块转接板、光纤固定杆、光纤头固定环、光纤、会聚透镜光轴滑块、会聚透镜滑块转接板、会聚透镜固定杆、会聚透镜、导轨支架光轴连接轴、光谱仪；下固定旋钮(4)的螺纹杆和下连接块(5)的螺纹孔相连，下连接块(5)通过其上的一个与上述螺纹孔连通且相互垂直的通孔套在实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上；顺时针或逆时针旋转下固定旋钮(4)，能将下连接块(5)压紧在实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上，或者将下连接块(5)从实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上松开；当下连接块(5)从实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上松开时，手工调整下连接块(5)沿实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上下移动；手工调整下连接块(5)的位置后，再顺时针旋转下固定旋钮(4)将下连接块(5)压紧在实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上；实验台支架(2)的垂直圆柱支杆的轴线和水平面垂直；下垂直移动调整旋钮(3)的转轴和下连接块(5)的轴承相连，转轴和轴承的轴线沿水平方向；下连接块(5)的滑动导轨槽和下垂直移动块(6)的滑动导轨相连；下垂直移动块(6)的滑动导轨上的齿条和下垂直移动调整旋钮(3)的转轴上的齿轮相连；金属样品(13)放置在下垂直移动块(6)上；通过旋转下垂直移动调整旋钮(3)能带动下垂直移动块(6)以及金属样品(13)相对于下连接块(5)上下移动；上固定旋钮(8)的螺纹杆和上连接块(9)的螺纹孔相连，上连接块(9)通过其上的一个与上述螺纹孔连通且相互垂直的通孔套在实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上；顺时针或逆时针旋转上固定旋钮(8)，能将上连接块(9)压紧在实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上，或者将上连接块(9)从实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上松开；当上连接块(9)从实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上松开时，手工调整上连接块(9)沿实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上下移动；手工调整上连接块(9)的位置后，再顺时针旋转上固定旋钮(8)将上连接块(9)压紧在实验台支架(2)的垂直圆柱支杆上；上垂直移动调整旋钮(7)的转轴和上连接块(9)的轴承相连，转轴和轴承的轴线沿水平方向；上连接块(9)的滑动导轨槽和上垂直移动块(10)的滑动导轨相连；上垂直移动块(10)的滑动导轨上的齿条和上垂直移动调整旋钮(7)的转轴上的齿轮相连；激光聚焦透镜(12)通过螺纹旋紧于激光头(11)上，激光头(11)与上垂直移动块(10)通过螺栓相连；通过旋转上垂直移动调整旋钮(7)能带动上垂直移动块(10)以及激光头(11)相对于上连接块(9)上下移动；右导轨支架(14)、左导轨支架(15)、右高度尺(16)的主尺和左高度尺(17)的主尺分别通过螺钉固定在光学平台(1)上；右高度尺(16)的游标和左高度尺(17)的游标分别通过螺钉连接在标定支架连接块(19)上；光纤头光轴滑块(20)和会聚透镜光轴滑块(25)分别通过滑动导轨槽和光轴导轨(18)相连，并在光轴导轨(18)上自由滑动；会聚透镜滑块转接板(26)以螺钉固定在会聚透镜光轴滑块(25)上；会聚透镜固定杆(27)上设有标尺，标尺的零点是会聚透镜固定杆(27)的最下端；会聚透镜固定杆(27)沿会聚透镜滑块转接板(26)的通孔自由滑动；光纤头滑块转接板(21)以螺钉固定在光纤头光轴滑块(20)上；光纤固定杆(22)沿光纤头滑块转接板(21)的通孔自由滑动；光纤(24)与光纤头固定环(23)螺纹连接，光纤头固定环(23)与光纤固定杆(22)通过螺纹连接；光纤(24)和光谱仪(30)相连。