发明名称 |
一种适用于EBSD检测的金属基复合材料试样的制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种适用于EBSD检测的金属基复合材料试样的制备方法,属于检测试样制备领域。所述方法采用线切割,机械抛光,振动抛光-离子抛光-振动抛光工艺对具有多相结构的金属基复合材料进行处理,获得适用于EBSD检测的金属基复合材料试样。所述试样同时满足高表面平整度、低应力值和保留待样原有表面应力分布规律要求,不仅满足不同类型金属基复合材料的EBSD检测要求,同样满足不同类型多相导电材料进行XRD,拉曼光谱等多种检测的检测试样制备要求。 |
申请公布号 |
CN104458373A |
申请公布日期 |
2015.03.25 |
申请号 |
CN201410721309.X |
申请日期 |
2014.12.02 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
薛辽豫;王富耻;王扬卫;马壮 |
分类号 |
G01N1/28(2006.01)I;G01N1/32(2006.01)I;G01N23/203(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京理工大学专利中心 11120 |
代理人 |
杨志兵;李爱英 |
主权项 |
一种适用于EBSD检测的金属基复合材料试样的制备方法,其特征在于:所述方法具体步骤如下:(1)利用线切割技术在金属基复合材料基体上提取EBSD待检测试样1;(2)对EBSD待检测试样1进行机械抛光处理,得到EBSD待检测试样2;(3)依次对EBSD待检测试样2进行振动抛光处理和离子抛光处理,得到EBSD待检测试样3;重复步骤(3),直至EBSD待检测试样3的原位取向标定率大于等于80%,得到所述金属基复合材料试样;其中,EBSD是电子背散射衍射技术的简称。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |