发明名称 一种适用于EBSD检测的金属基复合材料试样的制备方法
摘要 本发明公开了一种适用于EBSD检测的金属基复合材料试样的制备方法,属于检测试样制备领域。所述方法采用线切割,机械抛光,振动抛光-离子抛光-振动抛光工艺对具有多相结构的金属基复合材料进行处理,获得适用于EBSD检测的金属基复合材料试样。所述试样同时满足高表面平整度、低应力值和保留待样原有表面应力分布规律要求,不仅满足不同类型金属基复合材料的EBSD检测要求,同样满足不同类型多相导电材料进行XRD,拉曼光谱等多种检测的检测试样制备要求。
申请公布号 CN104458373A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410721309.X 申请日期 2014.12.02
申请人 北京理工大学 发明人 薛辽豫;王富耻;王扬卫;马壮
分类号 G01N1/28(2006.01)I;G01N1/32(2006.01)I;G01N23/203(2006.01)I 主分类号 G01N1/28(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 杨志兵;李爱英
主权项 一种适用于EBSD检测的金属基复合材料试样的制备方法,其特征在于:所述方法具体步骤如下:(1)利用线切割技术在金属基复合材料基体上提取EBSD待检测试样1;(2)对EBSD待检测试样1进行机械抛光处理,得到EBSD待检测试样2;(3)依次对EBSD待检测试样2进行振动抛光处理和离子抛光处理,得到EBSD待检测试样3;重复步骤(3),直至EBSD待检测试样3的原位取向标定率大于等于80%,得到所述金属基复合材料试样;其中,EBSD是电子背散射衍射技术的简称。
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