发明名称 一种轴承套圈无损检测的上下料装置
摘要 本实用新型公开了一种轴承套圈无损检测的上下料装置,属于轴承套圈的检测领域,其包括用于支撑待检轴承套圈的耐磨板,耐磨板开有第一通孔和第二通孔,该耐磨板安装在底座上,底座一端安装有电机和被电机驱动的主动轮,主动轮伸出耐磨板的第一通孔以用于驱动待检轴承套圈原地旋转。底座另一端安装有用于将待检轴承套圈移入待检工位和移出待检工位的上下料组件,上下料组件包括上料轴承和下料销,其均伸出耐磨板所述第二通孔,所述上料轴承和下料销相隔距离以用于容置待检轴承套圈壁,上料轴承和下料销能沿第二通孔往复移动,以推动或者勾取待检轴承壁使之移入待检工位或移出待检工位。本实用新型装置可实现轴承套圈的高速自动化检测。
申请公布号 CN204223816U 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201420698371.7 申请日期 2014.11.19
申请人 武汉华宇一目检测装备有限公司 发明人 胡沁宇;杨芸;刘俊
分类号 B65G47/91(2006.01)I;G01N27/83(2006.01)I 主分类号 B65G47/91(2006.01)I
代理机构 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人 李佑宏
主权项 一种轴承套圈无损检测的上下料装置,其特征在于,包括用于支撑待检轴承套圈的耐磨板(2),所述耐磨板(2)开有第一通孔和第二通孔,该耐磨板(2)安装在底座(1)上并与底座(1)相平行;所述耐磨板(2)上安装有用于限制待检轴承套圈轴向颤动的限位块(3);底座(1)一端安装有电机(4)、主动轮(5)以及从动轮(6),所述主动轮(5)和从动轮(6)轴向穿过第一通孔并凸出于耐磨板以与轴承套圈的外周面接触而用于驱动该轴承套圈原地旋转;所述底座(1)另一端安装有用于对待检轴承套圈进行移入待检工位和移出待检工位的上下料组件(7),所述上下料组件包括上料轴承(71)和下料销(72),其均轴向穿过第二通孔并凸出于耐磨板,所述上料轴承(71)和下料销(72)相隔一定距离以使得待检轴承套圈的壁可容置其中,该上料轴承和下料销能在所述第二通孔内沿耐磨板所在平面往复移动,以此方式推动待检轴承套圈使之移入待检工位或者移出待检工位。
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