发明名称 一种LED芯片检测分析系统
摘要 一种LED芯片检测分析系统,其特征在于,该系统包括印刷电路板、样品台、多个电极、连接插头、电学检测单元、光学检测单元和点连接装置:所述样品台设置于所述印刷电路板的中心,用于安装LED芯片;所述多个电极设置于印刷电路板的周围;所述连接插头与所述多个电极电连接;所述电学检测单元包括电压表、电流源、开关矩阵和输出插头,所述电压表、电流源通过开关矩阵与输出插头电连接,开关矩阵转换输出插头中各个针脚的电连接;所述点连接装置包括点焊机和金属导线,所述点焊机用于将金属导线的两端分别与电极和LED芯片连接。该系统是一种直接对LED芯片进行测试的检测系统。
申请公布号 CN204228934U 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201420734451.3 申请日期 2014.11.27
申请人 深圳市华测检测技术股份有限公司 发明人 董宁;李波;刘攀超
分类号 G01R31/44(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I;G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/44(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种LED芯片检测分析系统,其特征在于,该系统包括印刷电路板、样品台、多个电极、连接插头、电学检测单元、光学检测单元、温度传感器和点连接装置:所述样品台设置于所述印刷电路板的中心,用于安装LED芯片;所述多个电极设置于印刷电路板的周围;所述连接插头与所述多个电极电连接;所述电学检测单元包括电压表、电流源、开关矩阵和输出插头,所述电压表、电流源通过开关矩阵与输出插头电连接,开关矩阵转换输出插头中各个针脚的电连接;所述点连接装置包括点焊机和金属导线,所述点焊机用于将金属导线的两端分别与电极和LED芯片连接。
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