发明名称 |
一种LED芯片检测分析系统 |
摘要 |
一种LED芯片检测分析系统,其特征在于,该系统包括印刷电路板、样品台、多个电极、连接插头、电学检测单元、光学检测单元和点连接装置:所述样品台设置于所述印刷电路板的中心,用于安装LED芯片;所述多个电极设置于印刷电路板的周围;所述连接插头与所述多个电极电连接;所述电学检测单元包括电压表、电流源、开关矩阵和输出插头,所述电压表、电流源通过开关矩阵与输出插头电连接,开关矩阵转换输出插头中各个针脚的电连接;所述点连接装置包括点焊机和金属导线,所述点焊机用于将金属导线的两端分别与电极和LED芯片连接。该系统是一种直接对LED芯片进行测试的检测系统。 |
申请公布号 |
CN204228934U |
申请公布日期 |
2015.03.25 |
申请号 |
CN201420734451.3 |
申请日期 |
2014.11.27 |
申请人 |
深圳市华测检测技术股份有限公司 |
发明人 |
董宁;李波;刘攀超 |
分类号 |
G01R31/44(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/44(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种LED芯片检测分析系统,其特征在于,该系统包括印刷电路板、样品台、多个电极、连接插头、电学检测单元、光学检测单元、温度传感器和点连接装置:所述样品台设置于所述印刷电路板的中心,用于安装LED芯片;所述多个电极设置于印刷电路板的周围;所述连接插头与所述多个电极电连接;所述电学检测单元包括电压表、电流源、开关矩阵和输出插头,所述电压表、电流源通过开关矩阵与输出插头电连接,开关矩阵转换输出插头中各个针脚的电连接;所述点连接装置包括点焊机和金属导线,所述点焊机用于将金属导线的两端分别与电极和LED芯片连接。 |
地址 |
518101 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋 |