发明名称 SiC半導体素子およびその製造方法
摘要 キャリア移動度の高い{03−38}面などの特異な結晶面をトレンチ側壁に簡便に形成する技術、ならびに、チャネル部分に相当するトレンチ側壁の殆どが{03−38}面などで形成されるSiC半導体素子を提供する。SiCの(0001)面またはオフ角8?以下の(0001)面のオフ面に形成されるトレンチ構造を備え、トレンチ構造にチャネル部分があり、チャネル部分の面積90%以上が、{03−38}面または{03−38}面を<1−100>方向に−8?〜8?の間の角度でオフさせた面である。具体的には、SiCの(0001)面のトレンチに対して、熱処理(熱エッチング処理)を施すことにより、トレンチ側壁を{03−38}面に加工する。熱エッチング処理は、窒素ガスなどの不活性ガスもしくは水素ガスをキャリアガスとし、塩素雰囲気中で、800℃以上でエッチングを行う。
申请公布号 JPWO2013031172(A1) 申请公布日期 2015.03.23
申请号 JP20130531072 申请日期 2012.08.27
申请人 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学 发明人 畑山 智亮;纐纈 英典;戸所 義博
分类号 H01L29/12;H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L29/12
代理机构 代理人
主权项
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