| 摘要 |
<p>欠陥部を有する有機ＥＬ素子にレーザー光を照射し（Ｓ５３）、前記レーザー光の照射後、前記有機ＥＬ素子に、前記有機ＥＬ素子が正常であれば基準階調未満の第１階調に対応する輝度で発光することが期待される第１量の電流を供給しつつ、前記有機ＥＬ素子の発光輝度を測定し（Ｓ５５）、測定された発光輝度が判定しきい値未満である場合に（Ｓ５６でＮＯ）、前記有機ＥＬ素子に前記レーザー光を再度照射し（Ｓ５３）、測定された発光輝度が前記判定しきい値以上である場合に（Ｓ５６でＹＥＳ）、前記有機ＥＬ素子に、前記有機ＥＬ素子が正常であれば前記基準階調以上の第２階調に対応する輝度で発光することが期待される第２量の電流を供給しつつ、前記有機ＥＬ素子の発光輝度を測定する（Ｓ５７）。</p> |
