| 摘要 |
Способ определения следовых компонентов методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии воздействием последовательных лазерных импульсов на пробу, при этом после воздействия первого импульса возникает лазерно-индуцированная плазма, а второй импульс увеличивает интенсивность свечения эмиссионных линий следовых компонентов, и регистрацией эмиссионного спектра лазерной плазмы после воздействия второго импульса, отличающийся тем, что величину межимпульсной задержки выбирают равной времени, для которого при одноимпульсном воздействии на пробу достигается наибольшее соотношение сигнал/шум. |
