Laserscanningmikroskop und Verfahren zur Korrektur von Abbildungsfehlern insbesondere in der hochauflösenden Scanning-Mikroskopie

摘要

Die Erfindung betrifft ein Laserscanningmikroskop (SR-LSM) (1) und ein Verfahren zur Korrektur von Abbildungsfehlern in einem Laserscanning-Mikroskop. Das SR-LSM umfasst eine Beleuchtungseinrichtung (3) zur Bereitstellung eines Beleuchtungsspots (11); einen Scanner (7) zum Bewegen des Beleuchtungsspots (11) über eine zu untersuchende Probe (P) an aufeinanderfolgenden Scanning-Positionen; vorzugsweise eine adaptive Optik zur Beeinflussung einer Wellenfront des Beleuchtungsspots (11) mit einer Regeleinrichtung und einen Detektor (16) zur Erfassung eines von der Probe emittierten ortsaufgelösten Abbildungsspots (14). Erfindungsgemäß ist eine Auswerteeinheit (21) zur Bestimmung einer Point-Spread-Funktion (PSF) des Abbildungsspots (14) in jeder Scanning-Position vorgesehen, wobei ein aus der Point-Spread-Funktion (PSF) einer Scanning-Position ermitteltes Wellenfrontkorrektursignal der Regeleinrichtung (26) der adaptiven Optik zugeführt wird oder in einer digitalen Nachbearbeitung des Mikroskopbildes (z.B. mittels Entfaltung) verwendet wird.