| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Prüfgerät zur Prüfung einer Elektronikeinheit mit elektronischen Bauteilen und umfasst eine Prüfnadel (A), welche mittels einer Stelleinheit verfahren und an einzelnen Bauteilen zu deren Prüfung positioniert wird. An der Prüfnadel (A) ist ein Sensor (17) mit einer Sensorelektronik vorgesehen, wobei mittels von dem Sensor (17) generierten und in der Sensorelektronik verarbeiteten Sensorsignalen eine Prüfung von elektronischen Bauteilen erfolgt.</p> |
