发明名称 |
模块化检查系统检查模块 |
摘要 |
本发明题为模块化检查系统检查模块,公开用于检查目标物体的检查模块。该检查模块包括这样的检查模块,其包括外壳、适于提供与目标物体有关的传感器数据的传感器、适于从传感器接收传感器数据并且提供对应封装数据的检查模块处理器,和适于输出来自检查模块处理器的封装数据的检查模块接口。 |
申请公布号 |
CN104422695A |
申请公布日期 |
2015.03.18 |
申请号 |
CN201410423458.8 |
申请日期 |
2014.08.26 |
申请人 |
通用电气公司 |
发明人 |
K.A.库姆斯;J.L.斯科特;K.V.费尔滕 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I;G01N27/90(2006.01)I;G01N29/04(2006.01)I;G01N23/00(2006.01)I;G01N25/72(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
叶晓勇;姜甜 |
主权项 |
一种用于目标物体的视觉检查的检查模块,所述检查模块包括:外壳;光源,其适于照亮所述目标物体;图像传感器,其适于提供与所述目标物体有关的图像数据;铰接驱动器,其适于使所述图像传感器移动;检查模块处理器,其适于从所述图像传感器接收所述图像数据并且提供对应封装数据;以及检查模块接口,其适于输出来自所述检查模块处理器的所述封装数据。 |
地址 |
美国纽约州 |